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賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160ERSeries簡介：
1.X-RAYINSPECT*TEM：
搭載Micro-focusOpenTube(160kV)和FlatPanelDetector，可獲取高清晰，高倍率圖像，可靈活應用在分析及工藝流程檢中的缺陷檢查。此外，通過特別的減震機構，可穩定且快速的分析不良產品。可穩定的實現2.5DTilt檢測，也可以根據用戶及各種Application選擇不同Option。
2.X-raySimple&Easy2.5D：
1）Max可實現900x900mm的Tablesize，可檢測大型PCB和LED。
2）通過采用雙臂支撐的Z軸結構方式，可輕松解決震動引起的圖像殘影問題。
3）Detector傾斜角度最大可達70°,可通過Rotation軸輕松獲取2.5D圖像。
4）通過DetectorR軸結構的改善增加了檢測區域及機構的穩定性。
賽可（SEC）X-RAY檢測設備SF160ERSeries等，歡迎咨詢上海賽可，我們為您提供的參數、價格、型號、原理等信息，160ERSeries產地為韓國、品牌為賽可，歡迎大家咨詢。
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